| |
Červen 2012
,
rádi bychom Vám představili novinky firmy LOT-Oriel v oblasti nanotechnologií, nízkých teplotách, spektroskopii, fotonicky, elipsometrii, zobrazování, měření tenkých vrstev.
Seznámíte se s Magnetometrem NanoMoke3, systémem FT-FS1000 pro mechanické testování, detektory iDus InGaAs pro NIR spektroskopii, In-line a THz elipsometrem, kamerami s vysokým rozlišením sCMOS Neo a Zyla a solárními simulátory.
Jak si správně vybrat vhodný filtr pro danou aplikaci a jaké jsou důležité rozdíly mezi jednotlivými filtry.
Dozvíte se, jaké vyjimečné vlastnosti má systém pro měření tenkých vrstev FLX-3300 a co nového nabízí solární simulátory.
Vše je zpracováno v jednom Pdf souboru a napsáno v anglickém jazyce.
Pdf (2 mB) ke stažení
S přáním hezkého dne,
Daniel Bajano, marketingový manažer |
|
|
|
Spectrum novinky firmy LOT-Oriel
Obsah vydání
Magnetomerie
Evoluce magnetometrie NanoMOKE 3
Polohovatelné optické přesahy a časovaná přesnost
Nanotechnologie/Nízké teploty
Mikromechanický testovací systém FT-FS1000
Adiabatická demagnetizace chlazení
(ADR)
Spektroskopie/Fotonika
Náročná NIR spektroskopie s iDus InGaAs detektory
Elipsometrie
In-line a THz elipsometr
Zobrazování/Fotonika
Kamery CMOS (sCMOS) Neo a Zyla
Solární simulátory
Optika
Jak vybrat vhodný filtr pro danou aplikaci a jaké jsou rozdíly mezi filtry
Tenké vrstvy
FLX-3300
Solární simulátory
Pdf (2 mB) ke stažení
|
|